ET5410A+ 400 Вт 0 150 В 40 А программируемый электронный тестер нагрузки постоянного тока одноканальный для зарядного устройства Prize UE 220

1. 2,8-дюймовый TFT ЖК-экран с функцией подсветки позволяет осуществлять непрерывное наблюдение в темноте. 2. Нагрузка имеет программное обеспечение верхнего уровня, ее можно подключить к компьютеру через USB-соединение для реализации работы на компьютере. 3. С функцией вторичной защиты от перегрева, реализующей двойную защиту программного и аппаратного обеспечения от перегрева. 4. Интуитивно понятный интерфейс системы отображения делает процесс работы простым и удобным. 5. Благодаря функциям защиты от перенапряжения, перегрузки по току и перегрузки параметры перенапряжения и перегрузки по току могут быть гибко настроены для эффективной защиты нагрузки. 6. Обеспечивает профессиональное тестирование батареи и несколько основных режимов измерения CC, CV, CR, CP и выше CC+CV, CR+CV. 7. В режиме динамического тестирования его можно использовать для проверки динамических характеристик выходной мощности. 8. Широко используется при производстве и тестировании зарядных устройств, импульсных источников питания, линейных источников питания, а также при проведении исследований и разработок в других отраслях и научно-исследовательских учреждениях. Спецификация Состояние: Совершенно новый Тип изделия: электронная нагрузка постоянного тока Материал: алюминиевый сплав Размер: прибл. 90x190x286 мм / 3,5x7,5x11,3 дюйма Модель ET5410A+ Количество каналов Один канал Номинальная входная мощность 400 Вт Входное напряжение 0–150 В Входной ток 0–40 А Режим постоянного напряжения Диапазон 0,1–19,999 В 0,1–150 В Разрешение 1 мВ 10 мВ Погрешность ±(0,05%+0,02% полной шкалы) Диапазон режима постоянного тока 0–3А 0–40А
Разрешение 1 мА 10 мА Погрешность ±(0,05%+0,05% полной шкалы) Диапазон режима постоянного сопротивления 0,05–1 кОм 1 кОм–4,5 кОм Разрешение 10 мОм, 100 мОм Погрешность ±(0,1%+0,5% полной шкалы) Диапазон режима постоянной мощности 0–400 Вт Разрешение 10 мВт Погрешность ±(0,1%+0,5% полной шкалы) Режим функции динамического тестирования CC, CV T1 и T2 50 мс~60 с Функция тестиро